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如何避免實驗誤差
一、分析數(shù)據(jù)的處理
通常,測定工作獲得一系列有關(guān)數(shù)據(jù)以后,需按以下原則記錄、運算和處理。
1.記錄運算規(guī)則
主要說明食品分析中數(shù)據(jù)記錄與計算,其均按有效數(shù)字計算法則進(jìn)行,即:
①除特殊規(guī)定外,一般可疑數(shù)為zui后一位,有±1個單位的誤差;
②復(fù)雜運算時,其中間過程可多保留一位,zui后結(jié)果需取應(yīng)有的位數(shù);
③加減法計算的結(jié)果,其小數(shù)點以后保留的位數(shù),應(yīng)與參加運算各數(shù)中小數(shù)點后位數(shù)zui小的相同;
④乘除法計算的結(jié)果,其有效數(shù)字保留的位數(shù)應(yīng)與參加運算各數(shù)中有效數(shù)字位數(shù)zui少者相同;
2.可疑值的取舍
同一樣品進(jìn)行多次測定,常發(fā)現(xiàn)個別數(shù)據(jù)與其他數(shù)據(jù)相差較大,對這些不如意的數(shù)據(jù)不能任意棄去。除非分析者有足夠的理由確證這些數(shù)值是由于某種偶然過失或外來干擾而剔除外,否則都應(yīng)當(dāng)依據(jù)誤差理論來確定這些數(shù)據(jù)的取舍。
3.標(biāo)準(zhǔn)曲線的繪制
用吸光光度法、熒光光度法、原子吸收光度法、色譜分析法對某些成分進(jìn)行測定時,常常需要制備一套具有一定梯度的系列標(biāo)準(zhǔn)溶液,測定其系數(shù)(吸光度、熒光強(qiáng)度、峰高),繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線。在正常情況下,此標(biāo)準(zhǔn)曲線應(yīng)該是一條通過原點的直線,但在實際測定時,常出現(xiàn)某一、二點偏離直線的情況,這時,用zui小二乘方回歸法繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線,就能得到zui合理的圖形。zui小二乘法計算,然后按回歸方程式計算結(jié)果,繪制標(biāo)準(zhǔn)曲線。
4.測定結(jié)果的校正
在食品分析中,常常因為系統(tǒng)誤差,使測定結(jié)果高于或低于檢測對象的實際含量,即回收率不是100-%,所以需要在樣品測定的同時用加入回收法測定回收率,再利用回收率按下式對樣品的測定結(jié)果加以校正。
二、控制和消除誤差的方法
誤差的大小,直接關(guān)系到分析結(jié)果的精密度和準(zhǔn)確度。減少誤差的措施有如下幾種:
1.正確選取樣品量
樣品量的多少與分析結(jié)果的準(zhǔn)確度關(guān)系很大。在常量分析中,滴定量或重量過多或過少都直接影響準(zhǔn)確度。在比色分析中,含量與吸光度之間往往只在一定范圍內(nèi)呈線性關(guān)系。這就要求測定時讀數(shù)在此范圍內(nèi),以提高準(zhǔn)確度。通過增減取樣量或改變稀釋倍數(shù)可以達(dá)到此目的。
2.增加平行測定次數(shù)
減少偶然誤差測定次數(shù)越多,則平均值就越接近真實值,偶然誤差亦可抵消,所以分析結(jié)果就越可靠。一般要求每個樣品的測定次數(shù)不應(yīng)少于兩次,如要更精確的測定,分析次數(shù)應(yīng)更多些。
3.對照試驗
對照試驗是檢查系統(tǒng)誤差的有效方法。在進(jìn)行對照試驗時,常常用已知結(jié)果的試樣與被測試樣一起按*相同的步驟操作,或由不同單位、不同人員進(jìn)行測定,zui后將結(jié)果進(jìn)行比較。這樣可以抵消許多不明了因素引起的誤差。
4.空白試驗
在進(jìn)行樣品測定過程的同時,采用*相同的操作方法和試劑,惟獨不加被測定的物質(zhì),進(jìn)行空白試驗。在測定值中扣除空白值,就可以抵消由于試劑中的雜質(zhì)干擾等因素造成的系統(tǒng)誤差。
5.校正儀器和標(biāo)定溶液
各種計量測試儀器,如實驗室電子天平、旋光儀、分光光度計,以及移液管、滴定管、容量瓶等,在精確的分析中必須進(jìn)行校準(zhǔn),并在計算時采用較正值。各種標(biāo)準(zhǔn)溶液(尤其是容易變化的試劑)應(yīng)按規(guī)定定期標(biāo)定,以保證標(biāo)準(zhǔn)溶液的濃度和質(zhì)量。
6.嚴(yán)格遵守操作規(guī)程
分析方法所規(guī)定的技術(shù)條件要嚴(yán)格遵守。經(jīng)國家或主管部門規(guī)定的分析方法,在未經(jīng)有關(guān)部門同意下,不應(yīng)隨意改動。
三、誤差的來源
一個客觀存在的具有一定數(shù)值的被測成分的物理量,稱為真實值,測定值與真實值之差稱為誤差。根據(jù)產(chǎn)生誤差的原因,通常分為兩類,即系統(tǒng)誤差和偶然誤差。
系統(tǒng)誤差是由固定原因造成的誤差,在測定的過程中按一定規(guī)律重復(fù)出現(xiàn),有一定的方同性,即測定值總是偏高或總是偏低,這種誤差的大小是可測的,所以又稱“可測誤差”。它來源于分析方法誤差、儀器誤差、試劑誤差和主觀誤差,如分析人員掌握操作規(guī)程與操作條件等因素。
偶然誤差是由于一些偶然的外因所引起的誤差,產(chǎn)生的原因往往是不固定的、未知的,且大小不一、或正或負(fù),其大小是不可測的,這類誤差的來源往往一時難于覺察,可能是由于環(huán)境(氣壓、溫度、濕度)等的偶然波動或儀器的性能、分析人員對各份試樣處理時不一致所產(chǎn)生的。
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